Высокочувствительный прибор для обнаружения низкоконтрастных дефектов в оптически непрозрачных материалах создали ученые Аналитического и технологического исследовательского центра «Высокие технологии и наноструктурированные материалы» физического факультета Новосибирского государственного университета совместно с коллегами из Института физики полупроводников имени Ржанова СО РАН. В основе разработки – использование терагерцового излучения для бесконтактной диагностики покрытий, она поможет...