Ученые создали новый метод выявления причин перегрева электроника

Ученые разработали способ выявлять источники перегрева в электронных устройствах на наноуровне. Обнаружение неполадок в современных электронных устройствах, таких как ноутбуки и смартфоны, связано с трудностями теплопередачи на наноуровне.

Традиционные методы оптической термометрии неэффективны из-за ограничений пространственного разрешения. Группа ученых предложила новый подход, основанный на методах флуоресцентной микроскопии сверхвысокого разрешения. В новом исследовании, опубликованном в Science Advances...